Am 27.08.2009 fand bei der Firma ELMOS in Dortmund ein Workshop des Nanotechnologie-Verbunds NRW zum Thema “Zuverlässigkeit nanoelektronischer Bauelemente” statt.
Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann vom Fachgebiet Sensorik der Universität Paderborn, Vorsitzender des Nanotechnologie-Verbunds NRW und Mitorganisator des Workshops, stellte dort die aktuellen Forschungsergebnisse zu flexiblen Transistoren für eine kostengünstige Elektronik aus organischen Halbleitermaterialien und Nanopartikeln vor. Anstelle von teurem kristallinem Silizium nutzt diese Integrationstechnik Folien als Trägermaterial für druckbare elektronische Schaltungen. Einsatzgebiete der extrem kostengünstigen flexiblen Elektronik lassen sich in der RFID-Technik oder der Display-Technologie finden.
Die weiteren Vortragenden aus der Industrie (Intel, Infineon, ELMOS) und von den Universitäten Bochum, Dortmund und Duisburg-Essen präsentierten den aktuellen Stand und die geplante Entwicklung der CMOS-Technologie unter Einbeziehung von Redundanzen im Schaltungslayout zur Kompensation von Logikfehlern infolge statistischer Effekte. Diese Effekte beeinträchtigen die maximal erreichbare Schaltgeschwindigkeit von Mikroprozessoren sowie die Zuverlässigkeit der Schaltungen in Computern, so dass in der Nanotechnologie neue Ansätze für Schaltelemente erforscht werden müssen.
Insgesamt bot die gelungene Veranstaltung einen spannenden Ausblick über die weitere Entwicklung der Silizium-Technologie in Richtung Nanotechnologie.
Kontakt: hilleringmann@sensorik.upb.de
